検査と計測: 半導体産業向けの新しいソリューション from machineinsider.com 海外製造業サマリ Twitter Facebook はてブ Pocket LINE コピー 2024.09.10 www.machineinsider.com Inspection and Metrology: New Solutions for Semiconductor Industry - machineinsider.com Marposs has a complete range of non-contact sensors used for thin-film metrology, wafer di... 高さ150mmまで。 センサーは、自動検査機内で正確かつ正確な表面測定を行うために、専用のヒューマン インターフェイスを通じてプログラムできます。 3-NCG Thin Line NCG は、2 つの材料層間の距離を測定する干渉技術に基づいています。 干渉することなく、異なる材質の部品の厚さを測定するために使用できます。 さらに、このセンサーは、さまざまな発光体を使用して個々の層の厚さを測定するために使用できます。
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